Kompaktní tester elektronických součástek.
Tato bakalářská práce se zabývá návrhem a realizací mikroprocesorového testeru. V první části práce jsou uvedeny principy měření základních součástek pomocí mikrokontrolérů. Další část práce popisuje hardware navrženého prototypu, vybrané způsoby měření a software řídícího mikrokontroléru. Následuje měření parametrů navrženého prototypu a vyhodnocení výsledků. Na konec je prototyp srovnán s podobnými zařízeními a také jsou navržena vylepšení do budoucna. Závěr práce je zaměřen na zhodnocení dosažených parametrů prototypu a odůvodnění některých nedostatků.
Anotace v angličtině
Compact tester of electronic components.
This thesis deals with design and realization of the microprocessor tester. The first part outlines the basic principles of measurement using microcontrollers. The next part describes hardware of the designed prototype, chosen measurement methods and the software of the microcontroller. The parameters of the designed prototype were measured in lab and the results evaluated. At the end is the prototype compared with similar devices and also there are some proposed improvements for the future. End of this work focuses on an evaluation of the of the prototype parameters and justification of the shortcomings.
Kompaktní tester elektronických součástek.
Tato bakalářská práce se zabývá návrhem a realizací mikroprocesorového testeru. V první části práce jsou uvedeny principy měření základních součástek pomocí mikrokontrolérů. Další část práce popisuje hardware navrženého prototypu, vybrané způsoby měření a software řídícího mikrokontroléru. Následuje měření parametrů navrženého prototypu a vyhodnocení výsledků. Na konec je prototyp srovnán s podobnými zařízeními a také jsou navržena vylepšení do budoucna. Závěr práce je zaměřen na zhodnocení dosažených parametrů prototypu a odůvodnění některých nedostatků.
Anotace v angličtině
Compact tester of electronic components.
This thesis deals with design and realization of the microprocessor tester. The first part outlines the basic principles of measurement using microcontrollers. The next part describes hardware of the designed prototype, chosen measurement methods and the software of the microcontroller. The parameters of the designed prototype were measured in lab and the results evaluated. At the end is the prototype compared with similar devices and also there are some proposed improvements for the future. End of this work focuses on an evaluation of the of the prototype parameters and justification of the shortcomings.
Seznamte se s principy měření vlastností základních elektronických komponent a možností využití mikroprocesorů pro tento účel.
Prostudujte již dostupná řešení, jejich schopnosti a limitace.
Navrhněte mikroprocesorový systém určený pro měření vlastností základních elektronických součástek (rezistory, kondenzátory, cívky, diody, tranzistory).
Navržený systém realizujte.
Pomocí měření zjistěte parametry prototypu. Srovnejte dosažené výsledky s již dostupnými zařízeními. Navrhněte možná vylepšení prototypu.
Bližší požadavky na vytvořené zařízení budou stanoveny během konzultací s vedoucím práce.
Zásady pro vypracování
Seznamte se s principy měření vlastností základních elektronických komponent a možností využití mikroprocesorů pro tento účel.
Prostudujte již dostupná řešení, jejich schopnosti a limitace.
Navrhněte mikroprocesorový systém určený pro měření vlastností základních elektronických součástek (rezistory, kondenzátory, cívky, diody, tranzistory).
Navržený systém realizujte.
Pomocí měření zjistěte parametry prototypu. Srovnejte dosažené výsledky s již dostupnými zařízeními. Navrhněte možná vylepšení prototypu.
Bližší požadavky na vytvořené zařízení budou stanoveny během konzultací s vedoucím práce.
Seznam doporučené literatury
Student si vhodnou literaturu vyhledá v dostupných pramenech podle doporučení vedoucího práce.
Seznam doporučené literatury
Student si vhodnou literaturu vyhledá v dostupných pramenech podle doporučení vedoucího práce.