Bakalářská práce je zaměřena na realizaci softwaru pro podrobnější statistickou analýzu částečně zpracovaných dat z polovodičových detektorů částic Timepix. Software je postaven na platformě Microsoft .NET v integrovaném vývojovém prostředí (IDE) Microsoft Visual Studio v rámci knihovny Windows Presentation Foundation (WPF) zahrnuté v .NET a umožňuje vykreslovat několik typů histogramů ukazujících rozdělení různých vlastností částic nepřímým měřením při kolizi částic s citlivou oblastí detektoru Timepix.
Anotace v angličtině
This bachelor thesis is focused on the implementation of software for more detailed statistical analysis of partially processed data from Timepix semiconductor particle detectors. The software is built on the Microsoft .NET platform in the Microsoft Visual Studio integrated development environment (IDE) within the Windows Presentation Foundation (WPF) library included in .NET and allows plotting several types of histograms showing the distribution of various particle properties by indirect measurement when particles collide with the sensitive region of the Timepix detector.
Software, Timepix, Detector, Ionizing radiation, Data analysis, Histogram, C#, Microsoft .NET, dotnet, WPF, XAML
Rozsah průvodní práce
29s (28 594 znaků)
Jazyk
CZ
Anotace
Bakalářská práce je zaměřena na realizaci softwaru pro podrobnější statistickou analýzu částečně zpracovaných dat z polovodičových detektorů částic Timepix. Software je postaven na platformě Microsoft .NET v integrovaném vývojovém prostředí (IDE) Microsoft Visual Studio v rámci knihovny Windows Presentation Foundation (WPF) zahrnuté v .NET a umožňuje vykreslovat několik typů histogramů ukazujících rozdělení různých vlastností částic nepřímým měřením při kolizi částic s citlivou oblastí detektoru Timepix.
Anotace v angličtině
This bachelor thesis is focused on the implementation of software for more detailed statistical analysis of partially processed data from Timepix semiconductor particle detectors. The software is built on the Microsoft .NET platform in the Microsoft Visual Studio integrated development environment (IDE) within the Windows Presentation Foundation (WPF) library included in .NET and allows plotting several types of histograms showing the distribution of various particle properties by indirect measurement when particles collide with the sensitive region of the Timepix detector.