Předkládaná bakalářská práce se zabývá vlivy ionizujícího záření na polovodičové součástky. Nejprve jsou popsány různé druhy záření vyskytující se v možných oblastech využití součástek. Dále se práce zabývá degradačními procesy v polovodičích způsobeny právě ionizujícím zářením s větším důrazem na vlivy způsobené celkovou absorbovanou dávkou záření. Vlivy způsobené SEE jsou popsány pouze okrajově, jelikož jsou součástí jiných prací. V poslední části je zohledněn postup při návrhu zařízení a vlivy, které je nutné uvažovat. Na konci práce je uvedeno několik příkladů záření odolných součástek používaných v dnešní době.
Anotace v angličtině
The presented bachelor thesis deals with the effects of ionizing radiation on semiconductor devices. At first it describes various types of radiation occurring in the possible areas of component application. Furthermore the thesis deals with degradation processes in semiconductors caused by ionizing radiation with a greater emphasis on effects caused by total absorbed dose of irradiation. The effects caused by SEE are discussed only in passing, as they are part of other thesis. The last part is taken into account in the process of designing equipment and the factors that should be considered. At the end there are a few examples of radiation resistant components used nowadays.
Předkládaná bakalářská práce se zabývá vlivy ionizujícího záření na polovodičové součástky. Nejprve jsou popsány různé druhy záření vyskytující se v možných oblastech využití součástek. Dále se práce zabývá degradačními procesy v polovodičích způsobeny právě ionizujícím zářením s větším důrazem na vlivy způsobené celkovou absorbovanou dávkou záření. Vlivy způsobené SEE jsou popsány pouze okrajově, jelikož jsou součástí jiných prací. V poslední části je zohledněn postup při návrhu zařízení a vlivy, které je nutné uvažovat. Na konci práce je uvedeno několik příkladů záření odolných součástek používaných v dnešní době.
Anotace v angličtině
The presented bachelor thesis deals with the effects of ionizing radiation on semiconductor devices. At first it describes various types of radiation occurring in the possible areas of component application. Furthermore the thesis deals with degradation processes in semiconductors caused by ionizing radiation with a greater emphasis on effects caused by total absorbed dose of irradiation. The effects caused by SEE are discussed only in passing, as they are part of other thesis. The last part is taken into account in the process of designing equipment and the factors that should be considered. At the end there are a few examples of radiation resistant components used nowadays.