Diplomová práce se zabývá studiem křemíkových absorpčních tených vrstev solárních článků 2. a 3. generace. Tenké vrstvy byly deponovány na různé substráty s cílem vyhodnotit vliv těchto substrátů na mikrostrukturu a optické vlastnosti vrstev.
Annotation in English
The thesis deals with study of Si thin films used for 2. and 3. generation of fotovoltaic cells. Thin films were deposited on different substrates. The goal of this thesis was to determinate if the substrates influence microstructure and optical properties of the films.
Keywords
Tenké vrstvy, solární články, Si, mikrostrukturní a optické vlastnosti, spektroskopie, elektromagnetické záření
Keywords in English
Thin films, solar cells, Si, microstructure and optical properties, spectroscopy, elektromagnetic radiation
Length of the covering note
59
Language
CZ
Annotation
Diplomová práce se zabývá studiem křemíkových absorpčních tených vrstev solárních článků 2. a 3. generace. Tenké vrstvy byly deponovány na různé substráty s cílem vyhodnotit vliv těchto substrátů na mikrostrukturu a optické vlastnosti vrstev.
Annotation in English
The thesis deals with study of Si thin films used for 2. and 3. generation of fotovoltaic cells. Thin films were deposited on different substrates. The goal of this thesis was to determinate if the substrates influence microstructure and optical properties of the films.
Keywords
Tenké vrstvy, solární články, Si, mikrostrukturní a optické vlastnosti, spektroskopie, elektromagnetické záření
Keywords in English
Thin films, solar cells, Si, microstructure and optical properties, spectroscopy, elektromagnetic radiation
Research Plan
\begin {arab}
{Vytvořit série vrstev chemickou depozicí (PECVD) s různým zředěním silanu vodíkem o různé tloušťce do cca 600 nm
{Vyhodnotit změny mikrostruktury rtg. difrakcí a Ramanovou spektroskopií v závislos- ti na úrovni zředění silanu vodíkem a tloušťce vrstev
{Vyšetřit obsah a rozložení vodíku ve formě hydridů pomocí infračervené spektroskopie s Fourierovou transformací (FTIR)
{Vyšetřit optické vlastnosti vrstev (spektrální index lomu a absorpce, optická šířka za- kázaného pásma) pomocí UV Vis spektroskopie a spektroskopické elipsometrie
{Vyhodnotit experimentální údaje, porovnat získané fyzikální vlastnosti vrstev v závis- losti na tloušťce vrstev a na úrovni zředění silanu vodíkem, doporučit optimální para- metry depozičního procesu
{Diskuse výsledků
{Závěr
\end {arab}
Research Plan
\begin {arab}
{Vytvořit série vrstev chemickou depozicí (PECVD) s různým zředěním silanu vodíkem o různé tloušťce do cca 600 nm
{Vyhodnotit změny mikrostruktury rtg. difrakcí a Ramanovou spektroskopií v závislos- ti na úrovni zředění silanu vodíkem a tloušťce vrstev
{Vyšetřit obsah a rozložení vodíku ve formě hydridů pomocí infračervené spektroskopie s Fourierovou transformací (FTIR)
{Vyšetřit optické vlastnosti vrstev (spektrální index lomu a absorpce, optická šířka za- kázaného pásma) pomocí UV Vis spektroskopie a spektroskopické elipsometrie
{Vyhodnotit experimentální údaje, porovnat získané fyzikální vlastnosti vrstev v závis- losti na tloušťce vrstev a na úrovni zředění silanu vodíkem, doporučit optimální para- metry depozičního procesu
{Diskuse výsledků
{Závěr
\end {arab}
Recommended resources
\begin {tecky}
{Shah, A. V., et al.: Thin film silicon solar cell technology. In: Prog. Photovolt: Res. Appl. 2004; 12:113-142 (DOI: 10.1002/pip.533)
{Konagai, M.: Thin-Film Photovoltaics: an Overview, 26th EU PVSEC September 5-9, 2011 Hamburg, Germany
{Williamson, D. L.: Medium-Range Order in a-Si:H Below and Above Onset of Micro-crystallinity. MRS, Vol. 557 (1999) 251
{Zeman, M., Van Elzakker, G., Tichelaar, F. D., Sutta, P.: Philosophical Magazine, Vol. 89, Nos. 28-30, Oct 2009, 2435-2448
{Larkin, P. J.: Infrared and Raman Spectroscopy, Principles and spectral interpretations. Elsevier, Amsterdam 2011, ISBN 978-0-12-386984-5
\end {tecky}
Recommended resources
\begin {tecky}
{Shah, A. V., et al.: Thin film silicon solar cell technology. In: Prog. Photovolt: Res. Appl. 2004; 12:113-142 (DOI: 10.1002/pip.533)
{Konagai, M.: Thin-Film Photovoltaics: an Overview, 26th EU PVSEC September 5-9, 2011 Hamburg, Germany
{Williamson, D. L.: Medium-Range Order in a-Si:H Below and Above Onset of Micro-crystallinity. MRS, Vol. 557 (1999) 251
{Zeman, M., Van Elzakker, G., Tichelaar, F. D., Sutta, P.: Philosophical Magazine, Vol. 89, Nos. 28-30, Oct 2009, 2435-2448
{Larkin, P. J.: Infrared and Raman Spectroscopy, Principles and spectral interpretations. Elsevier, Amsterdam 2011, ISBN 978-0-12-386984-5
